日本小板藤野代理,kosakalab SE 300表面粗糙度测量机
SE 300系列
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小型便携式是具有可能的无轨测量类型,高分辨率内置打印机,测量条件存储器五个,与许多功能,如多标准同时分析功能,高性能的表面粗糙度,波度测量仪是的。
这是一个广泛的范围。
无滑动测量是可能的。
可以进行步进分析/打印。
采用高性能/手写笔可更换探测器
它符合每个国家标准。
XZ可以在两个方向上自动校准。
测量参数 | Ra,Rp,Rz,63种 |
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测量范围/分辨率 | Z:800μm/0.0064μm |
最大测量长度 | X:25毫米 |
测量放大率 | 垂直:100到100,000,自动侧:1到1,000 |
探测器 | PU - A 6,可互换的手写笔,标准手写笔:R2μm60° |
电源 | AC适配器 |
SE 500
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表面粗糙度,波动测量和步进测量都是有力的。对应于各种参数,可以同时分析多个标准。它是一款精密,紧凑,高性能的测量机,具有出色的可扩展性,适用于所有用途。
最佳驾驶距离,直线度准确度
触摸面板和开关操作相结合
记录纸的有效宽度宽,对于形状放大记录有效
可以对应于所有用途的组合是可能的。
测量标准 | JIS(2001/94/82),DIN,ISO,ASME |
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测量范围 | Z:800μm×:55mm |
最低分辨率 | 0.08纳米 |
测量放大率 | 垂直:50至200,000,AUTO侧:1至1,000,AUTO |
进给速度 | 0.05至2毫米/秒 |
组合 | 从便携式到固定式7种 |
SE 600
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可以根据ISO,JIS,DIN,ASME,BS等国际标准和其他国家和国家进行测量。准备各种滤波器,截止值,测量长度,计算方法。
它符合每个国家标准。
数据图表可以自由布局。
配备垂直和水平轴的自动校准功能
您可以任意组合各种测量自动化元件,以执行一系列测量操作。
刷新你的风格。
可以进行更高级的分析和过滤。
测量标准 | JIS(2001/94/82),DIN,ISO,ASME |
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测量范围 | Z:600μmX:100mm |
测量放大率 | 垂直:50至500,000宽度:1至5,000 |
进给速度 | 0.05至2毫米/秒 |
垂直移动范围 | 250毫米 |
记录 | 您可以使用免费布局进行录制。 |
SE 600 K 31
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高水平的表面粗糙度测量机增加了测量三维表面粗糙度的功能,并且可以通过“线和平面”深入评估目标表面。
二维粗糙度
对应于各种参数
可以自动校准垂直轴和水平轴。
自动从测量运行到打印
三维粗糙度
可以并行处理数据采集和分析。
您可以使用鸟瞰图或灰度图来记录三维粗糙度形状。
高分辨率测量,采样高达1亿点
测量标准 | JIS(2001/94/82),DIN,ISO,ASME |
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测量范围 | Z:600μmX:100mm |
测量放大率 | 垂直:50至500,000宽度:1至5,000 |
记录 | 您可以使用免费布局进行录制。 |
测量范围 | Z:600μmX:100mm Y:50mm |
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采样最小间隔 | X和Y均为1μm |
记录 | 彩色记录(鸟瞰图,差分灰度图等),粒子分析,3维粗糙度参数分析很多 |
SE 700
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进一步升级!它是一种高性能表面粗糙度测量机,具有高速运动,行程距离对应英寸尺寸和分析功能。
通过高速运动减少总测量时间
英制尺寸兼容120毫米驱动器
探测器主体是无线的。
使用操纵杆遥控器轻松操作
可以进行更高级的分析和过滤。
测量范围 | Z:800μm×:120mm |
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采样数/分辨率 | 高达32,000点/ 16位 |
直线度准确度 | 0.2μm/ 120 mm |
测量放大率 | 垂直:50至500,000宽度:1至5,000 |
进给速度 | 0.05至5毫米/秒 |
垂直移动范围 | 320毫米 |
SE 4000
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它是一种具有高直线度测量精度的台式移动式测量机,可以轻松,高精度地测量小而精密的零件。
对应于各种参数
通过数字秤进行数字采样
带固定探测器的移动台式
可以自动校准垂直轴和水平轴。
测量标准 | JIS(2001/94/82),DIN,ISO,ASME |
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测量范围 | Z:600μmX:100mm |
测量放大率 | 垂直:50至500,000宽度:1至5,000 |
进给速度 | 0.05至2毫米/秒 |
记录 | 您可以使用免费布局进行录制。 |
附件清单
探测器/ C系列
探测器/ A系列
探测器/ D系列
更换粗糙度手写笔
非接触式探测器(PU-OS 400)
圆周粗糙度测量单元(SRA - 21)
周向粗糙度测量装置(ZRM-200)
通用对象表(RAF - 11)
Y轴电动工作台(RAF - 22D)
交叉表(RAF - 31)
放置表(RAG)
旋转电动工作台(RAP-12D)
倾斜调整支架(ST系列)
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