藤野代理日本大冢 OTSUKA 带刻度显微镜 183-20X 日本军工技术
2019-08-31 11:03:06
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.日本大冢(OTSUKA) 带刻度显微镜 183-20X
一、规格:
倍率：20倍，40倍，60倍，100倍
实视野：7.2毫米，4.3毫米，2.2毫米，1.8毫米
测量范围：6.0毫米，3.4毫米，1.6毫米，1.2毫米
最小刻度：5/100毫米，2/100毫米，2/100毫米1/100毫米
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