MEMS元件/元件尺寸为2.5×3.0 mm标准规格测量原理热传导方法气体采样自然扩散测量范围0到2%显示7段LED 4位数显示(分辨率0.01%)电源灯,报警灯1,2,故障指示报警第一次报警:0.5%,第二次报警:1.0%报警延迟30秒以内外部输出4至20 mA模拟输出(分辨率0.01%)报警联系非电压触点(400 V,0.1 A)使用环境-10至50°C,90%RH或更低(无冷凝)功耗3瓦或更
2018-08-04
制图放大图片规范模型IR-AHT 适用于低温测量方法宽带辐射温度计测量温度范围-50至1000°C检测元素热电堆测量波长8至13微米准确度等级低于200°C:±2°C±1位200°C及以上:±1%测量值±1位再生性1°C±1位温度漂移低于300°C:0.15°C /°C 300°C至低于700°C:0.05%测量值/°C 700°C或更高:测量值的±0.025%/°C
2018-08-03
制图放大图片规范模型IR-AHU 适用于高温测量方法窄带辐射温度计测量温度范围900~3000℃检测元素硅测量波长0.65μm准确度等级低于1500°C:测量值的±0.5%±1 至少于1500至2000°C的数字:±1%的测量值±1位2000°C或更高:±2%的测量值±1 位数再生性1°C±1位温度漂移测量值的0.015%/°C决议1℃响应时间0.5秒光学系统镜头可移
2018-08-03
制图放大图片规范模型IR-AHU 适用于高温测量方法窄带辐射温度计测量温度范围900~3000℃检测元素硅测量波长0.65μm准确度等级低于1500°C:测量值的±0.5%±1 至少于1500至2000°C的数字:±1%的测量值±1位2000°C或更高:±2%的测量值±1 位数再生性1°C±1位温度漂移测量值的0.015%/°C决议1℃响应时间0.5秒光学系统镜头可移
2018-08-03
制图放大图片规范模型中高温 IR-AHS测量方法窄带辐射温度计测量温度范围600~3000℃检测元素硅测量波长0.96μm准确度等级低于1500°C:测量值的±0.5%±1 至少于1500至2000°C的数字:±1%的测量值±1位2000°C或更高:±2%的测量值±1 位数再生性1°C±1位温度漂移测量值的0.015%/°C决议1℃响应时间0.5秒光学系统镜头可移动
2018-08-03
制图放大图片规范模型中高温 IR-AHS测量方法窄带辐射温度计测量温度范围600~3000℃检测元素硅测量波长0.96μm准确度等级低于1500°C:测量值的±0.5%±1 至少于1500至2000°C的数字:±1%的测量值±1位2000°C或更高:±2%的测量值±1 位数再生性1°C±1位温度漂移测量值的0.015%/°C决议1℃响应时间0.5秒光学系
2018-08-03
制图放大图片规范模型IR-AHT 适用于低温测量方法宽带辐射温度计测量温度范围-50至1000°C检测元素热电堆测量波长8至13微米准确度等级低于200°C:±2°C±1位200°C及以上:±1%测量值±1位再生性1°C±1位温度漂移低于300°C:0.15°C /°C 300°C至低于700°C:0.05%测量值/°C 700°C或更高:测量值的±0.025%/°C
2018-08-03
概述/功能IR-BZ系列是一个紧凑的检测部件,通过分离检测部分和主体部分,因此可以在高温环境中使用。安装数字温度显示,参数设定功能,实现稳定测量。·对环境温度变化进行高精度和稳定的测量·可应用于要求在15 ms的高速响应下符合要求的生产线·测量温度范围对应于低温范围(0至1000°C)的宽范围规范测量范围0至1000°C测量波长8至14微米检测元素热电堆准确度等级300°C
2018-08-03